环栅晶体管
芯片里的开关越做越短,栅极就越难管住它。办法是把栅极从上面一面,到三面,再到四面包住硅:几片薄硅叠起来,金属栅极从四周把它们裹住。这是一块剖开的逻辑单元:五个栅极、两叠硅片、源漏晶体、接触孔和最下面两层铜线。
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能数出原子的开关
镜头停在一片硅的切面上。这片硅只有 5 纳米厚,硅的晶格常数是 0.543 纳米,所以它厚约 9 个晶胞,沿厚度方向约 37 层原子。
亮点成对出现,是沿 <110> 方向看过去的硅原子柱,一对相距约 0.14 纳米。上下那层琥珀色的薄膜是氧化铪,再往外是金属栅极。电子就在这片硅里从一头流到另一头。
片厚 5 nm ≈ 9 个晶胞 ≈ 37 层原子 · a = 0.5431 nm
一块芯片,几百亿个
把镜头拉远:这块逻辑单元只有约 0.25 微米长,周围是成排相同的单元,单元排成电路块,电路块拼成一块芯片,几百块芯片做在一片直径 300 毫米的晶圆上。
IBM 在 2021 年展示的 2 纳米一代环栅芯片,说指甲盖大小的一块能放下最多 500 亿个晶体管。三星在 2022 年 6 月 30 日开始量产 3 纳米环栅芯片,是第一家。
晶圆 300 mm · 最多约 500 亿个晶体管 / 指甲盖大小(IBM 2021)
栅极压低一道坎
源极里挤满了电子,漏极接着正电压。两者之间的硅里有一道能量的坎,电子翻不过去,开关就是关着的。
栅极电压升高,这道坎就被压低,翻过去的电子成倍增加。剖面上方的墨线就是这道坎,由本页的模型实时算出;蓝点是流过的电子,数量按电流画。
电子的能量服从玻尔兹曼分布。室温下,坎每降低约 60 毫伏,翻过去的电子最多多十倍。这叫亚阈值摆幅的极限:59.5 毫伏每十倍。真实器件总要比它慢一点。
亚阈值摆幅 ≥ (kT/q)·ln10 = 59.5 mV/dec(300 K)
为什么要四面包住
同一张台上放着三个栅长都是 12 纳米的晶体管,都从栅极中间切开:平面晶体管的栅极只在硅的上面;鳍式晶体管(FinFET)把硅立成薄鳍,栅极包住三面;环栅晶体管把硅做成横躺的薄片,栅极包住四面。
漏极的电压会从侧面渗进沟道,帮电子翻坎,栅极就管不住了。渗进去多远,看一个叫“特征长度”的量:栅极包得越多、硅越薄,它越短。栅长要比它长 5 到 10 倍,开关才关得干净。
按本页的模型,平面晶体管的特征长度约 5.6 纳米,12 纳米的栅极根本关不断;鳍式约 2.8 纳米,亚阈值摆幅约 77 毫伏每十倍;环栅约 2.4 纳米,约 72 毫伏每十倍,漏电少一个数量级以上。
特征长度 λ:平面 5.6 nm · 鳍 2.8 nm · 环栅 2.4 nm(本页模型,栅长 12 nm)
剖开来看
从下往上:硅衬底和浅沟槽隔离;三片硅叠成的沟道;包住每一片的高介电常数氧化层和金属栅极;栅极两侧的氮化硅侧墙;两头长出的源极和漏极晶体;落在它们上面的接触孔;再往上是第一层和第二层铜线。
前面那叠是 n 型晶体管,靠电子导电;后面那叠是 p 型,靠空穴导电。两种配成一对,就是 CMOS 电路的基本单元。导线之间本来填满了绝缘的氧化物,这里拿掉了,好看清结构。
栅极间距 45 nm · 栅长 12 nm · 三片硅,每片 5 × 30 nm
叠起来的硅片
从栅极中间横着切开,能看到三片硅一片叠一片,每一片的上下左右都先包着一层约 1.5 纳米的氧化铪,再包着金属栅极。
三片硅的周长加起来约 210 纳米,全都受栅极控制,却只占 30 纳米宽的地方。电流和受控的宽度成正比,所以叠起来的片子能在小面积里推出大电流。片子的宽度还可以按电路的需要画宽画窄。
片子两头之间那些白色的小块是内侧隔离层。它把栅极和源漏隔开,减少两者之间的电容。制造一章会看到它是怎么做出来的。
受控宽度 3 × 2 × (30 + 5) = 210 nm · 占地 30 nm
先造后掏
悬空的硅片不能直接做出来。做法是先交替长出硅和锗硅的薄层,像千层饼;刻成窄条;盖上一个假的多晶硅栅极;切掉两头,从侧面把锗硅往里蚀刻一点,填进内侧隔离层;再长出源漏晶体。
然后拆掉假栅极,用只腐蚀锗硅、不碰硅的工艺把锗硅层全部掏空,硅片就悬在两头的源漏之间,这一步叫沟道释放。最后沿着空隙先铺一层氧化铪,再灌进金属,栅极就从四面包住了每一片硅。
叠层 → 刻条 → 假栅 → 切开 → 内侧隔离 → 源漏 → 拆假栅 → 释放 → 高 k → 金属栅
“2 纳米”不是 2 纳米
芯片的“几纳米”早已是一代工艺的名字,不是任何一处的尺寸。国际器件与系统路线图(IRDS)2022 年版里,叫“2 纳米”的那一代,栅极间距 45 纳米,最密的金属线间距 20 纳米,栅长 14 纳米。
这块模型就按这样的尺寸做:栅极中心之间 45 纳米,栅长 12 纳米,硅片 5 纳米厚。整个晶体管上没有任何一处是 2 纳米。
IRDS 2022:“2 nm” = G45M20(栅距 45 nm,金属间距 20 nm)
再往下
叉片晶体管(forksheet)在 n 型和 p 型两叠硅片之间插一道绝缘墙,两者可以靠得更近。imec 在 2021 年做出的器件,两叠之间只隔 17 纳米。
互补晶体管(CFET)干脆把 n 型叠在 p 型上面,一个占地放两个晶体管。2023 年,英特尔展示了 60 纳米栅距的叠层器件,台积电展示了 48 纳米栅距的,都是 n 型在上。
背面供电把电源线从晶体管上面挪到硅衬底的背面,通过细小的通孔从下面送电,上面的布线就只走信号。英特尔的 18A 已经用上(PowerVia);台积电的 A16 原计划 2026 年量产,后来有报道说推迟到 2027 年。
叉片 · 互补叠层(n 在 p 上)· 背面供电
拆开来看
各层沿着竖直方向拉开:衬底、隔离、源漏、硅片、氧化铪、金属栅、侧墙、接触孔、两层铜线。指针停在哪一层上,那一层就被单独托出来,标出名字。
实验台
选一种结构,调栅极电压和漏极电压,改栅长、片数、宽度和厚度。电流、漏电、亚阈值摆幅和特征长度都由本页的模型实时计算,下面的曲线是对数坐标的转移特性。
试一试把栅长从 12 纳米慢慢缩到 8 纳米,三种结构的亚阈值摆幅各变成多少?哪一种最先关不断?
模型省略了什么
几何:一块通用的逻辑单元,尺寸照 IRDS 2022 的“2 纳米”规则和 IBM 公布的纳米片器件,不是任何一家的具体设计。硅片画成圆角矩形,实际的截面更圆。导线之间的绝缘氧化物、多数通孔和更高的布线层都省略了。电子画成蓝点,一个点代表很多电子,大小也不按比例。物理:特征长度用 Yan 等(1992)和 Colinge(2008)的单栅、双栅公式;矩形截面按两个方向的双栅叠加(1/λ² = 1/λ₁² + 1/λ₂²),这是近似;沟道里的势垒用 Young(1989)的准二维解;电流按虚拟源模型的形式,注入速度 9×10⁶ 厘米每秒(IRDS),等效氧化层厚度 0.9 纳米,长沟道阈值电压 0.44 伏(使默认的环栅器件漏电约每微米 10 纳安),电源电压 0.7 伏。没有计入:源漏的串联电阻、量子限域、随电场变化的迁移率、自热、栅极漏电、带间隧穿、器件之间的差异。平面晶体管按重掺杂(每立方厘米 10¹⁹)的体硅算。所以电流数字偏大,趋势和数量级是对的。
几个常见的误解
“2 纳米”“3 纳米”是工艺代的名字,不是栅长,也不是任何一处的尺寸。环栅晶体管并不能突破 60 毫伏每十倍:这个极限来自电子能量的热分布,只有换一种开关原理的器件(例如隧穿晶体管)才可能绕开它;环栅只是让真实器件更接近它。1992 年论文里的“环栅”指的是上下两面都有栅极的平面薄膜,和今天的纳米片不是一回事。图中墨线是电子能量随位置的变化,只画形状,不标绝对数值。
资料来源
- N. Loubet 等(2017):Stacked nanosheet gate-all-around transistor to enable scaling beyond FinFET,VLSI 技术研讨会(栅长 12 nm、栅距 44/48 nm)
- IBM Research:上文摘要
- N. Loubet 等(2018),ECS:硅/锗硅叠层、牺牲层、选择性释放、内侧隔离、约 5 nm 的硅片
- IBM 新闻稿(2021-05-06):2 纳米芯片,指甲盖大小最多 500 亿个晶体管
- 三星新闻稿(2022-06-30):开始量产 3 纳米环栅工艺
- 台积电新闻稿(2024-04-24):A16 与背面供电(Super Power Rail)
- TrendForce(2026-04-23):A16 量产推迟到 2027 年的报道
- 英特尔新闻稿(2025-10-09):18A(RibbonFET 与 PowerVia)
- 英特尔:PowerVia 测试芯片结果(2023)
- IRDS 2022 More Moore(表 MM-7:“2 nm” = G45M20,纳米片尺寸)
- IRDS 2024 More Moore(亚阈值摆幅、开态电流、注入速度、CFET 的叠放次序)
- IEEE Spectrum(2020):工艺节点的名字和尺寸无关
- P. Weckx 等(2019),IEDM:叉片晶体管
- imec(2021):叉片器件,n、p 间距 17 nm(eeNews 报道)
- M. Radosavljević 等(2023),IEDM:60 nm 栅距的叠层 CMOS 反相器(英特尔)
- S. Liao 等(2023),IEDM:48 nm 栅距的 CFET(台积电)
- IEEE Spectrum(2023):英特尔、三星、台积电的 CFET
- R.-H. Yan、A. Ourmazd、K. F. Lee(1992):Scaling the Si MOSFET,IEEE TED(特征长度)
- K. K. Young(1989):全耗尽 SOI MOSFET 的短沟道效应,IEEE TED
- J.-P. Colinge(2008):多栅晶体管的等效栅数与特征长度
- A. Khakifirooz、O. M. Nayfeh、D. Antoniadis(2009):虚拟源模型,IEEE TED
- M. Lundstrom:Fundamentals of Nanotransistors 讲义(60 mV/dec、虚拟源模型)
- NIST CODATA:硅的晶格常数
- Ioffe 研究所:硅的基本参数(介电常数 11.7)
数据
The transistor model is the site’s own: the scale lengths follow Yan, Ourmazd and Lee (1992) and Colinge (2008); the barrier along the channel is the quasi-2D solution of Young (1989); the current takes the form of the virtual-source model of Khakifirooz, Nayfeh and Antoniadis (2009). Every current, swing and leakage on the page is computed live in the browser and checked in the tests. The cell’s ground rules (45 nm gate pitch, 20 nm wire pitch) follow the IRDS 2022 More Moore table for the “2 nm” generation; the 12 nm gate and the 5 nm sheets follow IBM’s published nanosheet devices. The section shader (capped cuts) is ported and rewritten from AirsupHQ/machine-skill (github.com/AirsupHQ/machine-skill), MIT licence, © 2026 Air Supply Technologies Inc. (Airsup), by way of the turbofan plate. The models, the die and wafer drawings and the words are the site’s own; the die is a generic layout, not any real chip.
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