极紫外光刻机
芯片上最细的线条只有十几纳米宽。印出它们的机器,用的是波长 13.5 纳米的极紫外光。这种光会被一切物质吸收,连空气也不例外,所以从光源到硅片,整条光路都在真空里,靠十来面反射镜一程一程传下去。
向下滚动
十三纳米
这是一片直径 300 毫米的硅片,上面排满芯片。标准的极紫外光刻机,能印出半间距 13 纳米的线条;高数值孔径的新一代,做到 8 纳米。
一根头发宽约 8 万到 10 万纳米,能并排放下六千多条 13 纳米的线。芯片要一层一层叠起来印,层与层之间的对准误差,最新机型标称不到 1 纳米。
半间距 13 纳米(数值孔径 0.33)· 8 纳米(0.55)· 套刻约 0.9 纳米
为什么是 13.5 纳米
能印多细,取决于光的波长和镜头收光的角度:线宽 = k₁ × λ / NA。波长越短,线越细。上一代光刻机用 193 纳米的深紫外光;极紫外把波长一下缩短到 13.5 纳米。
代价是,这种光几乎碰到什么就被什么吸收。玻璃透镜不能用,空气也不能有。机器内部抽成真空,光路上全是反射镜,连掩模也是一面带图案的反射镜。
线宽 = k₁ × λ / NA · λ = 13.5 纳米
四十层的镜子
普通镜面对极紫外光几乎不反射。这里的镜子镀着钼和硅交替的薄膜,每层只有几纳米厚,一对约 7 纳米,差不多是波长的一半。
每个界面只反射一点点光,但几十个界面反射回来的光步调一致,叠在一起就变强了。四五十对膜层叠起来,一面镜子能反射约 70% 的光;层数再多,也增加不了多少。
钼 / 硅多层膜 · 约 40–50 对 · 每面反射约 70%
剖开:一路反射
剖开真空腔,能看到光走过的整条路。收集镜把光聚到中间焦点,照明系统把它整理成均匀的一条光带,照在掩模上;掩模反射出图案,投影物镜的六面镜子再把图案缩小四倍,落到硅片上。
每反射一次,大约剩下七成。从光源到硅片要反射十来次,最后到达硅片的,只有出发时的百分之一二。
每次反射约剩 70% · 十余次之后约剩 1–2%(估算)
锡滴与等离子体
光源里,一个喷嘴每秒喷出约 5 万颗熔融的锡滴,每颗直径 25 到 30 微米,速度约每秒 70 米。
每颗锡滴先挨一束较弱的预脉冲,被压成一张薄饼;紧接着,二氧化碳激光的主脉冲把它加热成约 50 万开的等离子体,发出 13.5 纳米的光。背后的椭球形收集镜把光汇聚到中间焦点。画面里的锡滴放大了,动作也放慢了。
每秒约 5 万滴 · 先压扁,再击成等离子体
照明、掩模、投影
照明系统用几面反射镜,把光源的光变成形状和角度都合适的光带,斜着照到朝下安放的掩模上。掩模上的图案比芯片上的大四倍。
投影物镜把图案缩小四倍。它最后一面镜子收光的角度,用数值孔径 NA 表示:标准机型是 0.33,新一代是 0.55,光锥更宽,线条能更细。新一代在扫描方向缩小 8 倍、另一方向 4 倍,每次曝光的区域只有原来的一半。
缩小 4 倍 · NA 0.33 与 0.55
反向扫描
光带不动,动的是掩模和硅片。曝光时,掩模台和硅片台同时朝相反方向移动;掩模上的图案大四倍,所以掩模台的速度是硅片台的四倍。
一个曝光区扫完,硅片台挪到下一个,再反方向扫回来。高数值孔径机型的硅片台加速度约 8 g,掩模台约 32 g;硅片台每秒校正位置约两万次,偏差控制在 0.25 纳米以内。
掩模台速度 = 4 × 硅片台速度,方向相反
拆开来看
整台机器由几个大模块组成:光源、照明系统、掩模台、投影物镜、硅片台,外面是真空腔。标准机型重约 150 到 200 吨,运输要装约 40 个集装箱。
每个模块各自分开,指针停在哪一块上,哪一块就会被单独托出来,标出名字。
光源功率
剂量不变时,光越强,每个点需要的曝光时间越短,两个工作台就能扫得越快。量产机型的光源功率约 250 瓦,更新的已到 600 瓦。
试一试光源功率从 250 瓦调到 600 瓦,剂量不变,两个工作台要快多少?
模型省略了什么
这是原理模型,不是任何一台机器的设计。各面镜子的位置、倾角和照明系统里镜子的数量是为了让光路看得清楚而画的;实际照到掩模上的光只倾斜约 6 度,这里画得更斜。硅片、掩模和曝光区按同一比例画,其余部件不按比例。锡滴、激光和等离子体放大了,也放慢了。硅片只画了一个工作台,实际机器有两个,一个测量,一个曝光。光路上实际有低压氢气保护光学表面,图中没有画出。功率、扫描速度之间只画了“剂量不变时成正比”这一关系,不代表真实的产能数字。
几个常见的误解
极紫外光看不见,图中的紫色只是标出光路。“13 纳米”是能印出的最小半间距,不等于芯片厂商所说的“几纳米工艺”,那些名字早已不是任何一处的实际尺寸。到达硅片的光占多少,厂商没有公布;这里按每面约 70%、反射十余次估算为百分之一二。多层膜的理论反射率约 72–74%,实际约 70%。
资料来源
- ASML:光与激光(13.5 纳米、锡滴、预脉冲与主脉冲、每秒 5 万次)
- ASML:Hot machines(真空、反射镜与反射式掩模、等离子体约 50 万开、硅片台精度)
- ASML:瑞利判据 CD = k₁·λ/NA
- ASML:极紫外光刻系统产品页(分辨率 13 / 8 纳米、NA 0.33 / 0.55、300 毫米硅片)
- ASML:关于高数值孔径极紫外的五件事(4× / 8× 缩小、半场、8 g 与 32 g)
- 蔡司半导体:极紫外光刻(反射率约 70%、钼硅多层膜、投影物镜六面镜子)
- I. Fomenkov 等 (2017):Light sources for high-volume manufacturing EUV lithography,Adv. Opt. Technol.
- SPIE 11609 (2021):用于 N5 量产的激光等离子体极紫外光源(250 瓦现场数据)
- ASML,EUVL Workshop 2023:路线图(半间距、套刻)
- TRUMPF:极紫外光刻用二氧化碳激光
- heise online:ASML 光源从 600 瓦提升到 1000 瓦的计划
- Laser Focus World (2017):The secret of EUV generation
- CXRO(劳伦斯伯克利国家实验室):X 射线光学常数,用于计算多层膜反射率
- 美国国家纳米技术计划:纳米有多小(头发宽度)
- 路透社:解读 ASML 的光刻机(重量、集装箱)

